设备均匀性分析

检测项目

1.膜厚均匀性：薄膜物理厚度分布测量，平均膜厚，膜厚极差，膜厚标准偏差。

2.光学常数均匀性：折射率空间分布分析，消光系数均匀性测试。

3.光谱透过率均匀性：指定波长点透过率分布，宽带光谱透过率一致性。

4.光谱反射率均匀性：指定波长点反射率分布，宽带光谱反射率一致性。

5.颜色坐标均匀性：色度坐标空间分布，色差计算与均匀性评价。

6.亮度均匀性：显示面板发光亮度分布，亮度不均度计算。

7.色温均匀性：白场色温空间分布一致性分析。

8.雾度均匀性：材料雾度值在表面各区域的分布测量。

9.面电阻均匀性：透明导电膜方阻值在基片表面的分布。

10.偏振度均匀性：偏振元件偏振性能的空间一致性测试。

11.缺陷密度与分布：针孔、颗粒、条纹等缺陷的密度与位置分布统计。

12.表面粗糙度均匀性：不同区域表面轮廓算术平均偏差的分布。

13.应力分布均匀性：薄膜内应力在基片上的分布状态分析。

14.附着力均匀性：薄膜与基材结合强度在不同区域的测试。

15.环境稳定性均匀性：温湿度试验后各区域光学性能变化的一致性。

检测范围

增透镀膜玻璃、减反射膜片、光学滤光片、透明导电玻璃、柔性显示盖板、液晶显示面板、有机发光二极管显示模组、微型发光二极管显示单元、光学偏振片、相位延迟膜、彩色滤光片、触摸屏传感器、建筑节能镀膜玻璃、汽车抬头显示镜组、摄像头光学镜头、半导体光刻机掩模版、光纤通信波分复用器、虚拟现实设备光学透镜、防伪标识薄膜、装饰性镀膜制品

检测设备

1.光谱椭偏仪：用于无损测量薄膜厚度与光学常数的空间分布；具备多点自动扫描与成像分析功能。

2.分光光度计：测量样品透过率与反射率的光谱曲线及空间分布；配备大面积样品仓与二维扫描平台。

3.膜厚测量仪：基于白光干涉或光谱反射原理，快速测量薄膜厚度的面分布。

4.色彩亮度计：测量显示面板的亮度、色度坐标及色温的空间分布。

5.雾度计：测量透明材料雾度及透光率，并可进行面扫描分析均匀性。

6.四探针电阻测试仪：测量透明导电薄膜方阻的面分布均匀性；配备自动多点测试系统。

7.激光共聚焦显微镜：用于三维形貌测量，分析表面粗糙度及微观缺陷的分布均匀性。

8.光学轮廓仪：非接触式测量表面形貌与薄膜台阶高度，测试厚度与粗糙度均匀性。

9.偏振分析仪：测量偏振相关参数的空间分布，测试偏振器件的均匀性。

10.环境试验箱：提供温湿度等可控环境，用于测试样品环境可靠性前后的性能均匀性变化。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.